● 微納級的焦斑尺寸確保系統的高分辨率
● 透射式射線源，測試樣品與焦點的距離很小，達到高分辨成像
● 多種掃描模式：螺旋、偏置、有限角等
● 可搭載自動進樣系統，進行批量自動化測試
分辨率
像素細節分辨能力 | 200nm(平板探測器) / 40nm(物鏡耦合探測器) |
空間分辨率* | 500nm(平板探測器) / 500nm(物鏡耦合探測器) |
X射線源
類型 | 開管透射式(微焦點/納焦點) |
最高電壓 | 240KV / 225KV / 190KV / 160KV |
平板探測器
成像面積 | 300mmX300mm |
像素矩陣 | 3000X3000 |
物鏡耦合探測器
鏡頭 | 4X、10X、20X，探測器像素矩陣≥4096X4096 |
樣品
可檢測樣品尺寸 | 450mm×350mm(直徑×高度) |
樣品承重 | 25kg |
設備物理參數
設備尺寸 | 2460mm×1250mm×1950mm(長×寬×高) |
設備重量 | 3500kg / 5000kg （更多重量可根據實際承重要求進行定制） |
*空間分辨率可用空間分辨率測試卡進行測試驗證
▲ 技術參數為參考指標，更多規格型號，歡迎來電咨詢
 | 原位4D成像 結合原位力學和溫度等加載裝置，實現4D CT成像。 |
 | 物鏡耦合探測器 實現大工作距離下的高分辨率成像。 |
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